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2014年1月迅恒双目光学三维跟踪测量系统X-Track完成研发

2014年1月迅恒双目式光学三维跟踪测量系统X-Track完成研发。它基于双目传感器设计,高效精确识别标志点或编码点,用于标志点或编码点的跟踪和定位,其基于稳定可靠的光学跟踪算法实现毫秒级响应0.025mm的测量精度。可结合扫描仪进行自动拼接;可对机器人或机械手进行示教路径规划及伺服跟踪定位;也可与接触式探针光笔(Probe)相结合,手持无臂无线传输不受环境和熟练程度限制,支持分布式扩展实现更大的检测范围,提供SDK第三方开发接口自动检测模块可无限扩展,可定制开发兼容主流工业三维测量软件快速融入QC管理,通过定制非标探针进行异形件接触式测量,使其测量高效适应性强,能适应一些严酷的光学应用场景。